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高低溫沖擊測試系統(tǒng)在芯片的老化可靠性測試中的應用

 更新時間:2023-03-06 點擊量:801

  芯片在封裝完畢后,可能存在潛在缺陷,這些會導致芯片性能不穩(wěn)定或者功能上存在潛在缺陷,如果這些存在潛在缺陷的芯片被用在關鍵設備上,有可能發(fā)生故障,造成用戶損失或者危險。而老化試驗的目的就是在一定時間內,把芯片置于一定的溫度下,再施于特定的電壓,加速芯片老化,使芯片可靠性提前度過早期失效期,直接到達偶然失效期(故障偶發(fā)期),保證了交到顧客手中的芯片工作性能的穩(wěn)定性和可靠性。

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  芯片測試不僅僅是“挑剔"“嚴苛"就可以,還需要全流程的控制與參與。從芯片設計、芯片開啟驗證、芯片流片到進入量產階段測試,每個階段都需要解決相應的訴求,解決如何持續(xù)的優(yōu)化流程,提升程序效率,縮減時間,降低成本等問題。量產階段測試尤為重要,所以說芯片測試不僅僅是成本的問題,而是平衡質量、效率的與成本的關鍵,當然除了芯片的老化試驗,其他的可靠性測試也十分重要。

  冠亞制冷高低溫沖擊測試系統(tǒng)應用于芯片的失效分析、特性分析,可以進行帶夾具的測試,為芯片測試提供更廣泛的溫度范圍,提供了溫度轉換測試能力。高低溫沖擊測試系統(tǒng)同時能應用于高低溫溫變測試、溫度沖擊測試等可靠性試驗,經長期的多工況驗證,滿足各類生產環(huán)境和工程環(huán)境的要求。

  冠亞制冷高低溫沖擊測試系統(tǒng)主要用于半導體測試中的溫度測試模擬,具有寬的溫度方向和高溫升降,溫度范圍-92~250℃,適用于各種測試要求。適用于電子元件的準確溫度控制。在用于惡劣環(huán)境的半導體電子組件制造中,IC封裝組裝、工程和生產測試階段包括電子熱測試和其他溫度(-45℃至+250℃)下的環(huán)境測試模擬。


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