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無(wú)錫芯片測(cè)試企業(yè)解析晶圓測(cè)試

 更新時(shí)間:2019-03-28 點(diǎn)擊量:1624

  無(wú)錫芯片測(cè)試企業(yè)是專業(yè)測(cè)試各種元器件、半導(dǎo)體、芯片的,那么,其中的晶圓測(cè)試是怎么進(jìn)行的呢?

無(wú)錫芯片測(cè)試企業(yè)

  無(wú)錫芯片測(cè)試企業(yè)的晶圓測(cè)試和老化指對(duì)半導(dǎo)體器件在未包裝之前進(jìn)行電氣測(cè)試和老化。老化是指通過(guò)加壓加熱對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行老化從而分辨可靠性較差的器件。晶圓測(cè)試和老化通常要使用晶圓探針臺(tái)以連接晶圓上細(xì)小的引腳,而探針臺(tái)也提供了測(cè)試和老化所需要的溫度。晶圓測(cè)試和老化不僅可以提供早期測(cè)試,也適用于器件晶元封裝器件理想的情況就是所有的測(cè)試都能在晶圓完成,這樣就不需要測(cè)試,可以節(jié)省大量成本。不過(guò),目前的晶圓測(cè)試和老化只不過(guò)是傳統(tǒng)晶圓制造的后端延伸。

  晶圓測(cè)試和老化基本的原理和普通的半導(dǎo)體器件終測(cè)沒(méi)什么區(qū)別,都是通過(guò)對(duì)DUT加激勵(lì)并觀察其輸出功能來(lái)判別器件的好壞,區(qū)別在于如何對(duì)器件進(jìn)行激勵(lì)。在終測(cè)時(shí),電流和電壓是通過(guò)ATE連接器件引腳而進(jìn)入器件內(nèi)部。在老化時(shí),器件被放置于烤箱中并由老化板提供所需的電壓電流。而在晶圓測(cè)試和老化中,電流和電壓是通過(guò)器件接觸腳直接輸入到電路內(nèi)部。

  無(wú)錫芯片測(cè)試企業(yè)是比較多的,當(dāng)然,不同無(wú)錫芯片測(cè)試企業(yè)帶來(lái)的芯片測(cè)試、晶圓測(cè)試都是有所區(qū)別的,所以,需要晶圓測(cè)試的用戶在選擇的時(shí)候還是需要根據(jù)參數(shù)來(lái)進(jìn)行購(gòu)買。(本文來(lái)源網(wǎng)絡(luò),如有侵權(quán),請(qǐng)聯(lián)系刪除,謝謝。)

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